Őrléses eljárással végzett mikronizálás és nanonizálás. A technológiai folyamat által okozott változások (pl. polimorfizmus, amorfizálódás) analitikai módszerekkel való követése. Nagyműszeres analitika alkalmazása (termoanalitika, XRPD, FT-IR, Raman spektroszkópia, NIR spektroszkópia). Bolygómalomban végzett nedves őrlési eljárás paramétereinek optimalizálása. A nedves közeg változtatása (vizes semleges, savas, lúgos, a végső adagolási forma iránt támasztott követelmények alapján).
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2015-10-01
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
