témavezető: Petrik Péter
helyszín (magyar oldal): Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet helyszín rövidítés: MFA
A kutatási téma leírása:
A nanoszerkezeteket tartalmazó rétegek alkalmazási területei rohamosan bővülnek, többek között a szenzorika, a napelem technológia, a félvezető ipar és a fotonika területén. Ilyen rendszerek például a fehérjeszálakból vagy arany nanogömbökből álló szenzorikai rétegek, de egyre bővülő kutatási területet jelentenek a biológiai (pl. lepkeszárny) vagy bioinspirált fotonikus szerkezetek is. Célunk a fény polarizációjának mérésén alapuló technikák fejlesztése a nagyobb érzékenység és az információ gazdagabb vizsgálat megvalósításának érdekében. Ehhez mérési elrendezéseket, folyadékcellákat és és hordozókat, valamint optikai modelleket és algoritmusokat fejlesztünk, amelyekkel a hullámhossz-, szög- és polarizációfüggő optikai válaszból meghatározhatjuk a minta paramétereit 8pl. a fehérjeszálak mélységbeli sűrűségeloszlását, a nanogömbök méretét, törésmutatóját, a rétegek vastagságát és számos egyéb tulajdonságot attól függően, hogy milyen sikeres a modellalkotás). Fontos cél kihasználni, hogy az általunk alkalmazott optikai módszerek nem csak rendkívül érzékenyek, hanem gyorsak és roncsolás mentesek is. ezáltal a rétegépülési folyamatokat valós időben tudjuk követni, amely fontos a rétegépülés és a rétegszerkezet megértéséhez. (Csoportunkról további információ található a http://www.ellipsometry.hu honlapon)
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2014-12-08
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
