témavezető: Tóth Zsolt
helyszín (magyar oldal): SZTE Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék helyszín rövidítés: SZTE
A kutatási téma leírása:
Az ellipszometria olyan optikai módszer, amellyel gyorsan és
érintésmentesen nyerhető információ tömbanyagok és vékonyréteg szerkezetek optikai- és geometriai adatairól. A jelölt feladata egyrészt új
ellipszometriai mérési eljárások kidolgozásában való részvétel, különös
tekintettel az időbontott lézeres ellipszometriára, másrészt
ellipszometriai mérések végzése. A mérendő minták magukba foglalják
lézerek és lézerrendszerek optikai komponenseit, lézeres és más
módszerekkel előállított szerves és szervetlen anyagú vékonyrétegeket,
ion- és lézersugárral megmunkált anyagokat. További feladat a mérési
eredmények kiértékelése, a megfelelő ellipszometriai modellek megtalálása
és értelmezése, valamint az ellipszometriai eredmények összevetése más
mérési módszerek eredményeivel.
ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): angol felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2015-02-01
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
