Login
 Forum
 
 
Thesis topic proposal
 
Péter Petrik
Optikai mérési módszer fejlesztése fehérjék és ultra-vékony nanoszerkezetek in situ és ex situ mérésére szenzorikai alkalmazásokhoz

THESIS TOPIC PROPOSAL

Institute: University of Pannonia
material sciences
Doctoral School of Molecular- and Nanotechnologies

Thesis supervisor: Péter Petrik
Location of studies (in Hungarian): MTA TTK MFA
Abbreviation of location of studies: MFA


Description of the research topic:

A feladat célja ellipszometriai méréstechnika fejlesztése speciális szenzorikai fehérjék és ultravékony nanoszerkezetek mérésére. A bioszenzorika perspektivikus anyagait (flagellin fehérjereceptor) és technikáit (szilanizálás, Langmuir-Blodgett módszer) egyaránt vizsgáljuk. Különösen fontos a flagellin fehérjereceptorok szubsztráthoz való kötésének, valamint a bioszenzorral analizálni kívánt anyag és a receptor kölcsönhatásának megfelelő érzékenységű mérése. Az általunk alkalmazott polarizációérzékeny spektroszkópiai módszer, az ellipszometria biztosítja a megfelelő érzékenységet (nanométeres pontosság), a mérés azonban indirekt, vagyis kvantitatív információ csak megfelelő optikai modellek alkalmazásával nyerhető a szerkezetről. A munka célja a rétegtulajdonságok meghatározása, a reakciók feltérképezése, és az ezekhez szükséges optikai modellek kidolgozása. A vizsgálatokat elsődlegesen folyadékcellában hajtjuk végre, ami lehetőséget biztosít a rétegépülés művelet közbeni optikai vizsgálatára, valamint arra, hogy a fehérjeréteget természetes közegében, folyadékban vizsgáljuk. 2009-től rendelkezésünkre áll a ma elérhető legkorszerűbb ellipszométer, egy Woollam M2000DI forgó kompenzátoros in situ spektroszkópiai ellipszométer, amely másodpercenként képes teljes mért spektrumokat felvenni a 190-1700 nm hullámhossztartományban. A munkához rendelkezésre áll az MFA nanoszenzorika laboratórium teljes eszköztára és tudásbázisa. (http://www.ellipszometria.hu)

A kutatási téma előzményei:
A tervezett munka egy 2010-ben induló OTKA kutatási programra épül, melynek célja különböző, főként a szenzorikában alkalmazott vékonyréteg-szerkezetek optikai vizsgálata.

Further requirements: 
Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).

Number of students who can be accepted: 1

Deadline for application: 2012-08-31


2024. IV. 17.
ODT ülés
Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).

 
All rights reserved © 2007, Hungarian Doctoral Council. Doctoral Council registration number at commissioner for data protection: 02003/0001. Program version: 2.2358 ( 2017. X. 31. )