témavezető: Nagy Szilvia
helyszín (magyar oldal): Széchenyi István Egyetem helyszín rövidítés: SZE
A kutatási téma leírása:
A képalkotó eszközök egyre nagyobb tért nyernek hétköznapjainkban és a tudomány számos területén, így a nanovilág mérésére szolgáló pásztázó mikroszkópokban, illetve az orvostudományban alkalmazott, különböző fizikai elveket kihasználó diagnosztikai eszközökben is. A nagyfelbontású, magas tárhelyigényű képek tömörítésében régóta alkalmazott eljárások a wavelet-analízisen alapuló veszteséges forráskódolási módszerek, melyeket ujjlenyomat-adatbázisoktól a JPEG2000 szabványon keresztül a mozgóképekig széleskörűen használnak.
A wavelet-analízis azonban nemcsak tömörítésre alkalmas, hanem a rendelkezésre álló adathalmaz tulajdonságainak mélyebb megismerésére, jellemző mintázatok detektálására, bizonyos frekvenciák elnyomására, kiemelésére, különböző skálájú viselkedések elemzésére is. A wavelet-analízis ugyanis a vizsgált függvényt vagy egyéb, tetszőleges Hilbert-tér elemét lokálisan különböző frekvenciájú összetevőkre bontja. A doktori munka a rendelkezésre álló orvosi, illetve nanofizikai eredetű képek wavelet-analízise, az így kapott eredményekben a fizikai, illetve makroszkopikus tulajdonságokkal való összefüggések keresése, meghatározása, jellemzése, indoklása. Szükséges az analizáló programok elkészítéséhez programozási gyakorlat.
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
