témavezető: Petrik Péter
helyszín (magyar oldal): MTA EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet helyszín rövidítés: MFA
A kutatási téma leírása:
A bio és nano tudományok rohamos fejlődése megköveteli a mérési módszerek fejlesztését, érzékenységének, megbízhatóságának javítását, információtartalmának növelését. A szenzorikától az elektronikus eszközök technológiájáig kulcsfontosságú a határfelületek, és az ezeken létrehozott vékonyrétegek szerkezetének megértése, nagy pontosságú mérése. A munka célja vékonyréteg nanoszerkezetek (fehérjék, félvezető és fém nanorészecskék) optikai méréstechnikájának fejlesztése. Az MFA Fotonika Osztályán kiemelt fontosságú fejlesztési irány a szenzorikai nanorétegek optikai vizsgálati módszereinek a fejlesztése. A jelölt feladata bekapcsolódni a hardveres (folyadékcellák, plazmonikai elrendezések), a kiértékelési (optikai modellek, kiértékelési algoritmusok fejlesztése) és a mintapreparálási (vékonyrétegek készítése biológiai és szervetlen nanorészecskékből) munkákba. A mérési eljárások tökéletesítése önmagában is fontos cél, de ennek lényeges szerepe és hozadéka kell legyen, hogy az egyre érzékenyebb mérési módszerekkel megértsük a rétegek szerkezetét, azok kialakulásának mechanizmusát, és ezáltal jobb szenzorikai rétegeket tudjunk előállítani. A laborról és az aktuális témákról további részletek találhatók a http://www.ellipsometry.hu honlapon
további elvárások: A jelentkezővel szemben támasztott elvárások: analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2016-09-01
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
