témavezető: Petrik Péter
belső konzulens: Beleznai Szabolcs
helyszín (magyar oldal): MTA Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet helyszín rövidítés: MTA
A kutatási téma leírása:
A bio és nano tudományok rohamos fejlődése megköveteli a mérési módszerek fejlesztését, érzékenységének, megbízhatóságának javítását, információtartalmának növelését. A szenzorikától az elektronikus eszközök technológiájáig kulcsfontosságú a határfelületek, és az ezeken létrehozott vékonyrétegek szerkezetének megértése és nagy pontosságú mérése. A munka célja optikai mérési eljárások fejlesztése vékonyréteg nanoszerkezetek vizsgálatára. A jelölt feladata bekapcsolódni a hardveres és kiértékelési munkákba. Az MFA Ellipszometriai Laboratóriuma nem csak folyadékcellák és szenzorikai hardverek fejlesztésével, hanem szenzorfelületek és nanoszerkezetek tervezésével és készítésével, valamint az ezek méréséhez szükséges, főként polarizációs optikai technikák és kiértékelési eljárások fejlesztésével is foglalkozik. A mérési eljárások tökéletesítése önmagában is fontos cél, de ennek lényeges szerepe és hozadéka kell legyen, hogy az egyre érzékenyebb mérési módszerekkel megértsük a rétegek szerkezetét, azok kialakulásának mechanizmusát, és ezáltal jobb szenzorikai rétegeket tudjunk előállítani. A laborról és az aktuális témákról további részletek találhatók a http://www.ellipsometry.hu honlapon.
ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): angol további elvárások: Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2016-05-31
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
