Thesis supervisor: Péter Petrik
Location of studies (in Hungarian): "Fotonika Osztály Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet Energiatudományi Kutatóközpont Magyar Tudományos Akadémia Abbreviation of location of studies: MTA
Description of the research topic:
A bio és nano tudományok rohamos fejlődése megköveteli a mérési módszerek fejlesztését, érzékenységének, megbízhatóságának javítását, információtartalmának növelését. A szenzorikától az elektronikus eszközök technológiájáig kulcsfontosságú a határfelületek, és az ezeken létrehozott vékonyrétegek szerkezetének megértése, nagy pontosságú mérése. A munka célja vékonyréteg nanoszerkezetek optikai méréstechnikájának a fejlesztése. A jelölt feladata bekapcsolódni a hardveres és kiértékelési munkákba. A mérési eljárások tökéletesítése önmagában is fontos cél, de ennek lényeges szerepe és hozadéka kell legyen, hogy az egyre érzékenyebb mérési módszerekkel megértsük a rétegek szerkezetét, azok kialakulásának mechanizmusát, és ezáltal jobb szenzorikai rétegeket tudjunk előállítani. A laborról és az aktuális témákról további részletek találhatók a http://www.ellipsometry.hu honlapon.
Recommended language skills (in Hungarian): angol Further requirements: Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek, optikai szoftverek ismerete előny (JCMwave, MATLAB, C, Pascal).
Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2015-05-29
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
