Thesis supervisor: Béla Fehér
Location of studies (in Hungarian): Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék Abbreviation of location of studies: MIT
Description of the research topic:
A beágyazott rendszerek megbízhatósági problémái között a hosszúidejű működés során egyre jelentősebb szerepet játszik a jelenleg intenzíven használt dinamikus memóriák öregedési folyamata következtében fellépő gyakori adatvesztés. Ezek az alkatrész öregedési folyamatok a nyomtatott áramkörökre fixen beforrasztott kialakítás miatt nehezen javíthatók, így jelentősen befolyásolják a rendszerek várható élettartamát. Bizonyos hibaarány alatt a jelenség a szokásos és elterjedt hibadetektáló/hibajavító módszerekkel kezelhető, azonban ezeknek a módszerek a fellépő költségek korlátokat szabnak. A kutatási feladat arra épül, hogy speciális memória öregítési eljárásokkal a komponensek életciklusát felgyorsítva olyan becsléseket, paramétereket származtasson, amelyek alapján az eszközök viselkedésének, megbízhatóságának jellemzői jobban becsülhetők. A legújabb beszámolók alapján a memória áramkörök hibaaránya sajnos kb. egy nagyságrenddel nagyobb, mint amit a korábbi adatok alapján feltételeztek, és a hibaarány jelentősen megemelkedik az életciklus második évében. Ezt a jelenséget kihasználva a várható élettartam becslését normál működési feltételek és ún. gyorsított öregedés alkalmazásával vizsgáljuk.
A kutatási téma közösen került megfogalmazásra az ERICSSON Magyarország Kft.-vel, és a kutatómunka során a feladatok specifikálása, elvégzése, és az eredmények értékelése is együttesen történik majd.
A témához kapcsolódó tanszéki együttműködések:
ERICSSON Magyarország Kft. HW Laboratórium
Heim Systems GmbH, Xilinx Inc.,