Thesis supervisor: István Bányász
Location of studies (in Hungarian): MTA Abbreviation of location of studies: MTA
Description of the research topic:
"Az anyagok különböző tulajdonságainak ionok implantálásával történő megváltoztatása napjainkra kiterjedt tudományággá vált. A félvezetőgyártásban már 40 éve használnak ilyen módszereket, az optikai elemek készítésében azonban csak mintegy 20 éve alkalmazzák az ionimplantálást.
A KFKI Campus területén 1993 – ban kezdődtek kutatások optikai elemek ionimplantálással történő készítésére jelen pályázat témavezetőjének kezdeményezésére és vezetésével. A kutatások eredményeképpen sikerült jó minőségű transzmissziós optikai rácsokat előállítani [1].
2003 – tól a kutatások nemzetközi (IFAC CNR, Firenze, Olaszország) és hazai (MTA SZFKI, RMKI és MFA) együttműködés keretében folynak, jelenleg egy 2011-ben megnyert hároméves OTKA kutatási támogatással. A nemzetközi együttműködés bővítése egy spanyol és egy francia kutatóintézet bevonásával folyamatban van. A kutatások legfontosabb újabb eredményei sík- és csatorna optikai hullámvezetők készítése ionimplantálással Er – adalékolt tellurit üvegben [2] valamint optikai rácsok készítése fókuszált protonnyalábbal.
A PhD ösztöndíjas feladatai a következők: Ionimplantált hullámvezetők, transzmissziós és reflexiós optikai rácsok és komplex integrált optikai eszközök tervezése (a SRIM program segítségével). Részvétel az ionimplantálásokban. Az elkészült optikai elemek minősítése és működésének ellenőrzése a következő módszerekkel: interferencia mikroszkópia, interferencia fáziskontraszt mikroszkópia (INTERPHAKO), m vonalas spektroszkópia egy nemrég beszerzett Metricon 2010M berendezésen, spektroszkópikus ellipszometria, mikroszkópikus Raman spektroszkópia és egyéb módszerek.
Az ionimplantálások nagy részét a Wigner FKK Van de Graaff gyorsítóján kell végezni, kisebb részüket kis energiás implantereken, rétegnövesztéssel kombinálva (MTA TTK MFA). A mikroszkópos optikai minősítésekre az SZFKI Kristályfizikai Osztályán rendelkezésre áll egy új mikroszkópiai laboratórium. A spektroszkópikus ellipszometriai méréseket az MTA TTK MFA -ban végezzük
1. I. Bányász, M. Fried, Cs. Dücső and Z.Vértesy, Recording of transmission phase gratings in glass by ion implantation, Applied Physics Letters , 79, 3755-3757, (2001)
2. S. Berneschi, G. Nunzi Conti, I. Bányász, A. Watterich, N. Q. Khanh, M. Fried, F. Pászti, M. Brenci, S. Pelli, G. C. Righini “Ion beam irradiated channel waveguides in Er3+-doped tellurite glass”, Applied Physics Letters, 90, 121136, (2007)"
Required language skills: angol Further requirements: Hajlandóság és képesség kísérleti munkára. Képesség egyszerűbb számítógépes programok megírásásra. Hajlandóság és képesség önálló szakirodalmi keresésre
Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2014-11-27
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
