Thesis supervisor: Zsolt Tóth
Location of studies (in Hungarian): SZTE Optikai és Kvantumelektronikai Tanszék Abbreviation of location of studies: SZTE
Description of the research topic:
Az ellipszometria olyan optikai módszer, amellyel gyorsan és
érintésmentesen nyerhető információ tömbanyagok és vékonyréteg szerkezetek optikai- és geometriai adatairól. A jelölt feladata egyrészt új
ellipszometriai mérési eljárások kidolgozásában való részvétel, különös
tekintettel az időbontott lézeres ellipszometriára, másrészt
ellipszometriai mérések végzése. A mérendő minták magukba foglalják
lézerek és lézerrendszerek optikai komponenseit, lézeres és más
módszerekkel előállított szerves és szervetlen anyagú vékonyrétegeket,
ion- és lézersugárral megmunkált anyagokat. További feladat a mérési
eredmények kiértékelése, a megfelelő ellipszometriai modellek megtalálása
és értelmezése, valamint az ellipszometriai eredmények összevetése más
mérési módszerek eredményeivel.
Recommended language skills (in Hungarian): angol Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2014-08-31
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
