Thesis supervisor: Tamás Dabóczi
Location of studies (in Hungarian): Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék Abbreviation of location of studies: MIT
Description of the research topic:
Beágyazott rendszerek intenzív kapcsolatban állnak a külvilággal, megfigyelik a fizikai folyamatokat, és beavatkoznak. A külvilág megfigyelése szenzorokon keresztül történik. Idő- vagy helytartománybeli jelek mérésénél (szenzor, jelkondicionáló, AD átalakító, mint mérőlánc) gyakran szembesülünk azzal a problémával, hogy a mérőrendszer sávszélessége összemérhető a mérendő jelével, vagy akár kisebb is. Ez esetben a mért idő- vagy helyfüggvény frekvenciafüggően torzul, azaz a gyors jelváltozások, meredek élek tipikusan ellaposodnak, egy-egy jellegzetes csúcs pozíciója eltolódik, amplitúdója megváltozik. Amennyiben a torzítás mértéke nem fogadható el, két lehetőség kínálkozik a mérés vagy jelrögzítés pontosságának javítására. Az első triviális megoldás egy nagyobb sávszélességű szenzor alkalmazása. Amennyiben erre lehetőség van, ezt az utat célszerű választani. Gyakran előfordul azonban, hogy erre gazdaságossági megfontolások miatt nincs lehetőség, vagyis a kielégítő sávszélességű szenzor költsége irreálisan magas. Ugyanígy beleütközhetünk technikai/technológiai korlátokba is, amikor a jelenlegi fejlettségi szint nem biztosít lehetőséget nagyobb sávszélesség elérésére. Ezekben az esetekben kínál megoldást az inverzszűrés, azaz a mérendő időfüggvény rekonstrukciója a mért jel digitális utófeldolgozása révén. Az inverz módszert lineáris időinvariáns esetben dekonvolúciónak nevezik.
Egy másik nagy csoportba azok a problémák tartoznak, ahol közvetlenül nem megfigyelhető jeleket szeretnénk mérni. Ehhez olyan rendszer állapotot vagy állapotokat kell megfigyelni, amelyek kapcsolatban állnak a megfigyelendő jellel. Amennyiben a megfigyelt és a mért állapotok közötti összefüggés, modell ismert, ennek inverzével a mért értékekből becsülhető a közvetlenül nem mérhető mennyiség. Ezzel a problémával szembesülünk például akkor, hogyha a megfigyelendő térrészbe fizikailag nem tudunk elhelyezni szenzort. Szintén ilyen inverz módszert kell bevetnünk azokban az esetekben, amikor egy biztonságkritikus rendszerben (pl. személygépkocsi, repülőgép) egy kulcsfontosságú szenzor meghibásodik. Ekkor más fizikai folyamatokból (más szenzorok felhasználásával) kell következtetnünk a nem vagy hibásan működő szenzor értékére.
A hallgató érdeklődésétől és az első féléves tapasztalataitól függően az alábbi területekkel foglalkozhat részletesen:
• közvetlenül nem megfigyelhető mennyiségek mérése inverz módszerekkel
• 2 dimenziós inverzszűrés rosszul fókuszált vagy bemozdult fényképfelvételek helyreállítására,
• inverzszűrés és identifikáció együttes (globális) optimalizálása.
Előzmények: A tanszéknek komoly múltja van inverz szűrési és rendszer identifikációs módszerek kidolgozásában és ipari alkalmazásában. Sok hazai és nemzetközi kutatási és fejlesztési projekt zárult le sikeresen ezekben a témakörökben.
Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2016-01-04
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
