Országos Doktori Tanács


	Szervezet tisztségviselők tagok jegyzőkönyvek határozatok alapszabály Doktori képzés doktori iskolák intézményenként tudományáganként azonosító alapján megszűnt oktatók név alapján kutatási téma szerint archívum témakiírások doktori iskolánként tudományáganként kutatási téma szerint témavezetések Doktori védések intézményenként tudományáganként név szerint dátum szerint doktori iskolánként Habilitációs előadások intézményenként tudományterületenként név szerint Dokumentumok nyilvános anyagok hírek jogszabályok útmutatók Kapcsolatok elérhetőségünk partnereink Bejelentkezés Fórum

Személyi adatlap

Nyomtatási kép

Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2013. I. 02.

Személyes adatok
név	Petrik Péter
születési év	1970
intézmény neve	Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Eötvös Loránd Tudományegyetem Pannon Egyetem
doktori iskola	BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (témakiíró Az adott oktató valamelyik doktori iskolában kiírt doktoranduszok számára kutatási témát, amire most jelentkezni is lehet, de még nincsen témavezetett doktorandusza. ) BME Villamosmérnöki Tudományok Doktori Iskola (oktató Az oktató a doktori iskola doktoranduszai számára oktat tantárgyat, és/vagy a doktori iskola megszavazta, hogy doktoranduszok számára kutatási témát írjon ki. ) ELTE Fizika Doktori Iskola (témakiíró Az adott oktató valamelyik doktori iskolában kiírt doktoranduszok számára kutatási témát, amire most jelentkezni is lehet, de még nincsen témavezetett doktorandusza. ) PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola (témavezető Az oktató valamelyik doktori iskolában egy vagy több doktorandusz vagy doktorjelölt munkáját irányítja. )
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot?	Pannon Egyetem

Elérhetőségek
drótpostacím	petrikmfa.kfki.hu
telefonszám	+36 1 392-2502
	saját honlap

Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím	PhD
fokozat megszerzésének éve	2000
fokozat tudományága	fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve	Budapesti Műszaki Egyetem

Jelenlegi munkahelyek
1996 -	MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet további (Tud Főmunkatárs)

Témavezetés

témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma

ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma

témavezetettjei közül fokozatot szereztek:

(50%)

Kozma Péter Dániel

PhD

2011

MNDI

témavezetettjei folyamatban lévő doktori cselekménnyel:

jelenlegi doktorandusz hallgatói az abszolutórium várható évével:

Nádor Judit	PhD	(2015)	MNDI
Fodor Bálint	PhD	(2014)

Témakiírások

Kutatás
kutatási terület	Spektroszkópiai ellipszometria, anyagtudomány
jelenlegi kutatásainak tudományága	anyagtudományok és technológiák fizikai tudományok

Közlemények

2009

P. Petrik, M. Fried, E. Vazsonyi, P. Basa, T. Lohner, P. Kozma, and Z. Makkai: Nanocrystal characterization by ellipsometry in porous silicon using model dielectric function, Journal of Applied Physics 105, pp. 024908-7
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.320
nyelv: angol

2009

Petrik P, Szilagyi E, Lohner T, Battistig G, Fried M, Dobrik G, Biro LP: Optical models for ultrathin oxides on Si- and C-terminated faces of thermally oxidized SiC, Journal of Applied Physics 106, pp. 123506-5
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.072
nyelv: angol

2008

E. Szilagyi, P. Petrik, T. Lohner, A. A. Koos, M. Fried, G. Battistig: Oxidation of SiC investigated by ellipsometry and Rutherford backscattering spectrometry, Journal of Applied Physics 104, 014903, pp. 014903-014903
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.320
nyelv: angol

2008

Petrik P: Ellipsometric models for vertically inhomogeneous composite structures, PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH 205: (4) pp. 732-738.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.214

2008

P. Kozma, N. Nagy, S. Kurunczi, P. Petrik, A. Hamori, A. Muskotal, F. Vonderviszt, M. Fried, I. Barsony: Ellipsometric characterization of flagellin films for biosensor applications, Physica Status Solidi C 5, pp. 1427-5
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.170
nyelv: angol

2000

Petrik P, Lohner T, Fried M, Biro LP, Khanh N Q, Gyulai J, Lehnert W, Schneider C, Ryssel H: Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 87: (4) pp. 1734-1742.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.180
független idéző közlemények száma: 27

1998

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy, THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.019
független idéző közlemények száma: 22

1998

Lohner T, Khanh NQ, Petrik P, Biro LP, Fried M, Pinter I, Lehnert W, Frey L, Ryssel H, Wentink DJ, Gyulai J: Surface disorder production during plasma immersion implantation, THIN SOLID FILMS 313: pp. 254-258.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.019
független idéző közlemények száma: 15

1998

Petrik P, Fried M, Lohner T, Berger R, Biro LP, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of polysilicon-on-oxide using spectroscopic ellipsometry, atomic force microscopy, and transmission electron microscopy, THIN SOLID FILMS 313: pp. 259-263.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.019
független idéző közlemények száma: 25

1996

M. Fried, T. Lohner, O. Polgár, P. Petrik, E. Vázsonyi, I. Bársony, J. P. Piel, J-L. Stehlé: Characterisation of Different Porous Silicon Structures by Spectroscopic Ellipsometry, Thin Solid Films 276, pp. 223-5
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.670
független idéző közlemények száma: 20
nyelv: angol

a legjelentősebbnek tartott 10 közlemény összegzett impakt faktora:

16.003

ezekre történt független hivatkozások száma:

109

Tudománymetriai adatok

Tudományos közlemény- és idézőlista

az akkreditációnál figyelembe vehető tudományos közleményeinek száma:

összes tudományos közleményeinek száma:

103

monográfiák és szakkönyvek:

monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:

összes tudományos közleményének összegzett impakt faktora:

75.375

külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:

hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:

összes tudományos közleményének független idézettségi száma:

310