Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2016. III. 05.
Személyes adatok
Petrik Péter
név Petrik Péter
születési év 1970
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (témakiíró)
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) (oktató)
ELTE Fizika Doktori Iskola (témakiíró)
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola (témakiíró)
PTE Fizika Doktori Iskola (oktató)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 15%
ELTE Fizika Doktori Iskola 15%
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola 30%
PTE Fizika Doktori Iskola 40%
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot? Pannon Egyetem
Elérhetőségek
drótpostacím petrikmfa.kfki.hu
telefonszám +36 1 392-2502
saját honlap
saját honlap (angol)
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 2000
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve Budapesti Műszaki Egyetem
Jelenlegi munkahelyek
1996 - MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet
további (Tud. Főmunkatárs)
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 4
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 2
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
Agócs Emil PhD 2015  MNDI
(50%) Kozma Péter Dániel PhD 2011  MNDI

témavezetettjei folyamatban lévő doktori cselekménnyel:
(50%) Nádor Judit PhD (2017/08)  
  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület Spektroszkópiai ellipszometria, anyagtudomány
jelenlegi kutatásainak tudományága anyagtudományok és technológiák
fizikai tudományok
Közlemények
2015

Bin Anooz S, Petrik P, Schmidbauer M, Remmele T, Schwarzkopf J: Refractive index and interband transitions in strain modified NaNbO<inf>3</inf> thin films grown by MOCVD, JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS 48: (38) 9 p. Paper 385303.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2013

Holfelder I, Beckhoff B, Fliegauf R, Honicke P, Nutsch A, Petrik P, Roeder G, Weser J: Complementary methodologies for thin film characterization in one tool - a novel instrument for 450 mm wafers, JOURNAL OF ANALYTICAL ATOMIC SPECTROMETRY 28: (4) pp. 549-557.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2013

P Petrik, B Pollakowski, S Zakel, T Gumprecht, B Beckhoff, M Lemberger, Z Labadi, Z Baji, M Jank, A Nutsch: Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods, APPLIED SURFACE SCIENCE 281: pp. 123-128.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2013

P Petrik, T Gumprechte, A Nutscha, G Roedera, M Lemberger, G Juhasz, O Polgar, C Major, P Kozma, M Janosov, B Fodor, E Agocs, M Fried: Comparative measurements on atomic layer deposited Al2O3 thin films using ex situ table top and mapping ellipsometry, as well as X-ray and VUV reflectometry, THIN SOLID FILMS 541: pp. 131-135.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2011

Gyulai G, Pénzes CsB, Mohai M, Lohner T, Petrik P, Kurunczi S, Kiss É: Interfacial properties of hydrophilized poly(lactic-co-glycolic acid) layers with various thicknesses, JOURNAL OF COLLOID AND INTERFACE SCIENCE 362: (2) pp. 600-606.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 5
nyelv: angol
DOI 
2001

Vazsonyi E, Szilagyi E, Petrik P, Horvath ZE, Lohner T, Fried M, Jalsovszky G: Porous silicon formation by stain etching, THIN SOLID FILMS 388: (1-2) pp. 295-302.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 78
nyelv: angol
DOI 
2000

Petrik P, Lohner T, Fried M, Biro LP, Khanh N Q, Gyulai J, Lehnert W, Schneider C, Ryssel H: Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 87: (4) pp. 1734-1742.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 41
nyelv: angol
DOI 
1998

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy, THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 66
nyelv: angol
DOI 
1998

Petrik P, Fried M, Lohner T, Berger R, Biro LP, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of polysilicon-on-oxide using spectroscopic ellipsometry, atomic force microscopy, and transmission electron microscopy, THIN SOLID FILMS 313-314: pp. 259-263.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 37
nyelv: angol
DOI 
1996

Fried M, Lohner T, Polgar O, Petrik P, Vazsonyi E, Barsony I, Piel JP, Stehle JL: Characterization of different porous silicon structures by spectroscopic ellipsometry, THIN SOLID FILMS 276: (1-2) pp. 223-227.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 34
nyelv: angol
DOI 
a legjelentősebbnek tartott 10 közleményre kapott független hivatkozások száma:265 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
161
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
166
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
3 
külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:
147
hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:
8
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
676

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 1.2153 ( 2016. IV. 26. )