Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2013. XII. 31.
Személyes adatok
Petrik Péter
név Petrik Péter
születési év 1970
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (témakiíró)
ELTE Fizika Doktori Iskola (oktató)
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola (témavezető)
PTE Fizika Doktori Iskola (oktató)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 15%
ELTE Fizika Doktori Iskola 15%
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola 30%
PTE Fizika Doktori Iskola 40%
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot? Pannon Egyetem
Elérhetőségek
drótpostacím petrikmfa.kfki.hu
telefonszám +36 1 392-2502
saját honlap
saját honlap (angol)
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 2000
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve Budapesti Műszaki Egyetem
Jelenlegi munkahelyek
1996 - MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet
további (Tud. Főmunkatárs)
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 4
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 2
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
(50%) Kozma Péter Dániel PhD 2011  MNDI

témavezetettjei folyamatban lévő doktori cselekménnyel:
Agócs Emil PhD (2014)  MNDI
abszolutóriumot szerzett, de nincs folyamatban doktori cselekmény és nincs fokozat:
jelenlegi doktorandusz hallgatói az abszolutórium várható évével:
Nádor Judit (PhD) (2015)  MNDI
hiányos adatú hallgatói:
Fodor Bálint PhD (2014)  FDI3-PTE
  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület Spektroszkópiai ellipszometria, anyagtudomány
jelenlegi kutatásainak tudományága anyagtudományok és technológiák
fizikai tudományok
Közlemények
2013

Holfelder I, Beckhoff B, Fliegauf R, Honicke P, Nutsch A, Petrik P, Roeder G, Weser J: Complementary methodologies for thin film characterization in one tool - a novel instrument for 450 mm wafers, JOURNAL OF ANALYTICAL ATOMIC SPECTROMETRY 28: (4) pp. 549-557.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 3.155*
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2013

P Petrik, B Pollakowski, S Zakel, T Gumprecht, B Beckhoff, M Lemberger, Z Labadi, Z Baji, M Jank, A Nutsch: Characterization of ZnO structures by optical and X-ray methods, APPLIED SURFACE SCIENCE 281: pp. 123-128.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.112*
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2011

Gyulai G, Pénzes CsB, Mohai M, Lohner T, Petrik P, Kurunczi S, Kiss É: Interfacial properties of hydrophilized poly(lactic-co-glycolic acid) layers with various thicknesses, JOURNAL OF COLLOID AND INTERFACE SCIENCE 362: (2) pp. 600-606.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 3.070
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2010

P Kozma, B Fodor, A Deak, P Petrik: Optical models for the characterization of silica nanosphere monolayers prepared by the Langmuir-Blodgett method using ellipsometry in the quasistatic regime, LANGMUIR 26: (20) pp. 16122-16128.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 4.268
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2010

Gyulai G, Pénzes Cs B, Petrik P, Lohner T, Kiss É: Wettability and protein adsorption properties of biodegradable polymeric nanolayers, EUROPEAN CELLS & MATERIALS 20: (Suppl. 3) p. 98.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 9.650
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2001

Vazsonyi E, Szilagyi E, Petrik P, Horvath ZE, Lohner T, Fried M, Jalsovszky G: Porous silicon formation by stain etching, THIN SOLID FILMS 388: (1-2) pp. 295-302.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.266
független idéző közlemények száma: 55
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
2000

Petrik P, Lohner T, Fried M, Biro LP, Khanh N Q, Gyulai J, Lehnert W, Schneider C, Ryssel H: Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 87: (4) pp. 1734-1742.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.180
független idéző közlemények száma: 38
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
1998

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy, THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.019
független idéző közlemények száma: 54
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
1998

Petrik P, Fried M, Lohner T, Berger R, Biro LP, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of polysilicon-on-oxide using spectroscopic ellipsometry, atomic force microscopy, and transmission electron microscopy, THIN SOLID FILMS 313-314: pp. 259-263.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.019
független idéző közlemények száma: 36
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
1996

Fried M, Lohner T, Polgar O, Petrik P, Vazsonyi E, Barsony I, Piel JP, Stehle JL: Characterization of different porous silicon structures by spectroscopic ellipsometry, THIN SOLID FILMS 276: (1-2) pp. 223-227.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.318
független idéző közlemények száma: 26
nyelv: angol
Teljes dokumentum 
a legjelentősebbnek tartott 10 közlemény összegzett impakt faktora (a várható IF-eket nem számolva):23.79 
ezekre történt független hivatkozások száma:211 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható tudományos közleményeinek száma:
111
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
132
monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
3 
összes tudományos közleményének összegzett impakt faktora:
109.693
külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:
106
hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:
2
összes tudományos közleményének független idézettségi száma:
486

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 1.1462 ( 2014. IX. 12. )