Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2017. I. 05.
Személyes adatok
Petrik Péter
név Petrik Péter
születési év 1970
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (témakiíró)
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) (oktató)
ELTE Fizika Doktori Iskola (témakiíró)
PE Vegyészmérnöki és Anyagtudományok Doktori Iskola (oktató)
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola (témakiíró)
PTE Fizika Doktori Iskola (oktató)
OE Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola (oktató)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 15%
ELTE Fizika Doktori Iskola 15%
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola 30%
PTE Fizika Doktori Iskola 40%
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot? Pannon Egyetem
Elérhetőségek
drótpostacím petrikmfa.kfki.hu
telefonszám +36 1 392-2502
saját honlap
saját honlap (angol)
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 2000
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve Budapesti Műszaki Egyetem
tudományos fokozat, cím DSc
fokozat megszerzésének éve 2016
fokozat tudományága anyagtudományok és technológiák
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
Jelenlegi munkahelyek
2016 - MTA EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet
tudományos tanácsadó
1996 - MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (további intézmény)
további (Tud. Főmunkatárs)
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 4
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 3
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
Agócs Emil PhD 2015  MNDI
(50%) Kozma Péter Dániel PhD 2011  MNDI

témavezetettjei folyamatban lévő doktori cselekménnyel:
(50%) Nádor Judit PhD (2018/08)  MNDI
  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület Optikai méréstechnika, anyagtudomány
jelenlegi kutatásainak tudományága anyagtudományok és technológiák
fizikai tudományok
Közlemények
2017

Agocs Emil, Kozma Peter, Nador Judit, Hamori Andras, Janosov Milan, Kalas Benjamin, Kurunczi Sandor, Fodor Balint, Ehrentreich-Förster Eva, Fried Miklos, Horvath Robert, Petrik Peter: Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions, APPLIED SURFACE SCIENCE in press: p. in press. 6 p.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2016

Judit Nador, Benjamin Kalas, Andras Saftics, Emil Agocs, Peter Kozma, Laszlo Korosi, Inna Szekacs, Miklos Fried, Robert Horvath, Peter Petrik: Plasmon-enhanced two-channel in situ Kretschmann ellipsometry of protein adsorption, cellular adhesion and polyelectrolyte deposition on titania nanostructures, OPTICS EXPRESS 24: (5) pp. 4812-4823.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2016

Fodor Balint, Agocs Emil, Bardet Benjamin, Defforge Thomas, Cayrel Frederic, Alquier Daniel, Fried Miklos, Gautier Gael, Petrik Peter: Porosity and thickness characterization of porous Si and oxidized porous Si layers – an ultraviolet-visible-mid infrared ellipsometry study, MICROPOROUS AND MESOPOROUS MATERIALS 227: pp. 112-120.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
DOI 
2015

Chandrappan J, Murray M, Kakkar T, Petrik P, Agocs E, Zolnai Z, Steenson DP, Jha A, Jose G: Target dependent femtosecond laser plasma implantation dynamics in enabling silica for high density erbium doping, SCIENTIFIC REPORTS 5: Paper 14037. 8 p.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2014

Kumar N, Petrik P, Ramanandan GKP, El Gawhary O, Roy S, Pereira SF, Coene WMJ, Urbach HP: Reconstruction of sub-wavelength features and nano-positioning of gratings using coherent Fourier scatterometry, OPTICS EXPRESS 22: (20) pp. 24678-24688.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 3
nyelv: angol
DOI 
2001

Vazsonyi E, Szilagyi E, Petrik P, Horvath ZE, Lohner T, Fried M, Jalsovszky G: Porous silicon formation by stain etching, THIN SOLID FILMS 388: (1-2) pp. 295-302.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 87
nyelv: angol
DOI 
2000

Petrik P, Lohner T, Fried M, Biro LP, Khanh N Q, Gyulai J, Lehnert W, Schneider C, Ryssel H: Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 87: (4) pp. 1734-1742.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 44
nyelv: angol
DOI 
1998

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy, THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 68
nyelv: angol
DOI 
1998

Petrik P, Fried M, Lohner T, Berger R, Biro LP, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of polysilicon-on-oxide using spectroscopic ellipsometry, atomic force microscopy, and transmission electron microscopy, THIN SOLID FILMS 313-314: pp. 259-263.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 37
nyelv: angol
DOI 
1996

Fried M, Lohner T, Polgar O, Petrik P, Vazsonyi E, Barsony I, Piel JP, Stehle JL: Characterization of different porous silicon structures by spectroscopic ellipsometry, THIN SOLID FILMS 276: (1-2) pp. 223-227.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 36
nyelv: angol
DOI 
a legjelentősebbnek tartott 10 közleményre kapott független hivatkozások száma:280 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
170
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
179
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
3 
külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:
156
hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:
8
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
769


2017. III. 21.
ODT ülés
Az ODT következő ülésére 2017. május 5-én 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 1.2343 ( 2017. II. 28. )