Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2016. XII. 04.
Személyes adatok
Fried Miklós
név Fried Miklós
születési év 1958
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató)
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) (oktató)
PE Vegyészmérnöki és Anyagtudományok Doktori Iskola (oktató)
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola (törzstag)
Doktori Iskola Tanácsa (teljes jogú külső tag)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 18%
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) 20%
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola 61%
PE MNDI Doktori Iskola Tanácsa (teljes jogú külső tag) 1%
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot? Pannon Egyetem
MAB minősítés Doktori iskola újra értékelésére vár
Elérhetőségek
drótpostacím friedmfa.kfki.hu
telefonszám +36 20 549-2414
saját honlap
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 1985
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
tudományos fokozat, cím DSc
fokozat megszerzésének éve 2005
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
Jelenlegi munkahelyek
1982 - MTA EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet
tudományos tanácsadó
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 3
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 3
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
Major Csaba Ferenc PhD 2010  FTDI-BME
Polgár Olivér PhD 1999  
(50%) Rédei László PhD 1998  

  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület szilárdtest fizika, ellipszometria vékonyrétegekre. Ion implantáció, nano-kristályos félvezetők méretváltozásának hatása az optikai tulajdonságokra ill. biológiai anyagok optikai tulajdonságai
jelenlegi kutatásainak tudományága anyagtudományok és technológiák
fizikai tudományok
Közlemények
2016

Fodor B, Kozma P, Burger S, Fried M, Petrik P: Effective medium approximation of ellipsometric response from random surface roughness simulated by finite-element method, THIN SOLID FILMS in press: p. in press. 5 p.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2016

Judit Nador, Benjamin Kalas, Andras Saftics, Emil Agocs, Peter Kozma, Laszlo Korosi, Inna Szekacs, Miklos Fried, Robert Horvath, Peter Petrik: Plasmon-enhanced two-channel in situ Kretschmann ellipsometry of protein adsorption, cellular adhesion and polyelectrolyte deposition on titania nanostructures, OPTICS EXPRESS 24: (5) pp. 4812-4823.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2016

Agocs Emil, Kozma Peter, Nador Judit, Hamori Andras, Janosov Milan, Kalas Benjamin, Kurunczi Sandor, Fodor Balint, Ehrentreich-Förster Eva, Fried Miklos, Horvath Robert, Petrik Peter: Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions, APPLIED SURFACE SCIENCE in press: p. in press. 6 p.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2014

Ambalanath Shan, M Fried, G Juhasz, C Major, O Polgar, A Nemeth, P Petrik, Lila R Dahal, Jie Chen, Zhiquan Huang, N J Podraza, R W Collins: High-Speed Imaging/Mapping Spectroscopic Ellipsometry for In-Line Analysis of Roll-to-Roll Thin Film Photovoltaics, IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS 4: (1) pp. 355-361. pp. 355-361.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 8
nyelv: angol
DOI 
2014

Miklos Fried: On-line monitoring of solar cell module production by ellipsometry technique, THIN SOLID FILMS 571: (P3) pp. 345-355.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
DOI 
2009

Major C, Nemeth A, Radnoczi G, Czigany Z, Fried M, Labadi Z, Barsony I: Optical and electrical characterization of aluminium doped ZnO layers, APPLIED SURFACE SCIENCE 255: (21) pp. 8907-8912.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 27
nyelv: angol
DOI 
1998

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy, THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 68
nyelv: angol
DOI 
1997

Krotkus A, Grigoras K, Pacebutas V, Barsony I, Vazsonyi E, Fried M, Szlufcik J, Nijs J, Levy Clement C: Efficiency improvement by porous silicon coating of multicrystalline solar cells, SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS 45: (3) pp. 267-273.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 55
nyelv: angol
DOI 
1992

FRIED M, LOHNER T, AARNINK WAM, HANEKAMP LJ, VANSILFHOUT A: DETERMINATION OF COMPLEX DIELECTRIC FUNCTIONS OF ION-IMPLANTED AND IMPLANTED-ANNEALED AMORPHOUS-SILICON BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 71: (10) pp. 5260-5262.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 77
nyelv: angol
DOI 
1992

FRIED M, LOHNER T, AARNINK WAM, HANEKAMP LJ, VANSILFHOUT A: NONDESTRUCTIVE DETERMINATION OF DAMAGE DEPTH PROFILES IN ION-IMPLANTED SEMICONDUCTORS BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY USING DIFFERENT OPTICAL-MODELS, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 71: (6) pp. 2835-2843.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 59
nyelv: angol
DOI 
a legjelentősebbnek tartott 10 közleményre kapott független hivatkozások száma:295 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
194
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
210
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
3 
külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:
174
hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:
16
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
1356

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 1.2318 ( 2016. XI. 26. )